Here a dataset of XPS, HAXPES and SEM measurements for the physico-chemical characterization of nanoparticles is presented. The measurements are part of the H2020 project “NanoSolveIT”. CeO2/Co3O4 nanoparticles were provided by Promethean Particles (EMR identifier in the project: ERM00000397).

Siin on esitatud XPS-, HAXPES- ja SEM-mõõtmiste andmekogum nanoosakeste füüsikalis-keemiliseks iseloomustamiseks. Mõõtmised on osa programmi „Horisont 2020“ projektist „NanoSolveIT“. CeO2/Co3O4 nanoosakesed saadi prometeensetest osakestest (EMRi identifikaator projektis: ERM00000397). Enne mõõtmisi valmistati lahusest proovid Si-plaatidele valatud tilkadena. Tehti esimesed SEM- ja EDS-mõõtmised, millele järgnesid samade proovide XPS- ja HAXPES-mõõtmised. Siin registreeriti esimese uuringu spektrid, millele järgnesid suure eraldusvõimega spektrid. XPS / HAXPESi jaoks paigaldati ühele plaadile mitu si-vahvlit. Plaat jäeti mõõtevahendi sisekambrisse mitu tundi enne mõõtmise algust. Seadmed: SEM-pildid saadi Supra 40 (Zeiss) SEM-iga, mis oli varustatud Quantax 400 (Bruker) SDD EDS-spektromeetriga. Röntgenspektroskoopia katsetes kasutati kombineeritud XPS/HAXPES spektromeetrit (ULVAC-PHI Qantes), kus XPSi mõõdetakse 1486,6 eV (monokromaatiline Al Kα allikas) ja HAXPESi 5414,9 eV (monokromaatiline Cr Kα allikas). Siin on võimalik mõõtmisi teha täpselt samas asendis. Andmed: SEM-i andmed on esitatud .tif-vormingus. XPS / HAXPES toorandmed on antud .spe (PHI-vorming) ja .npl (VAMAS-vorming) failidena. Mõõtmistingimused on esitatud andmefailides. Andmete nimetamine: SEM: proov _ Treatment (n), millel on n järjestikust numbrit. XPS / HAXPES: .spe ja vastavate .npl failide puhul Pn.m.o.sample_ treatment, kus Pn: tahvlite arv, m: spektrinumber (mõõtmiste järjekord); o: punktinumber, asukoht proovil, proov _ Treatment, kus "p" tähistab rikkumatust. Autorid tänavad Sigrid Benemanni, kes teostas SEM mõõtmised.