Here a dataset of XPS, HAXPES and SEM measurements for the physico-chemical characterization of nanoparticles is presented. The measurements are part of the H2020 project “NanoSolveIT”. CeO2/Co3O4 nanoparticles were provided by Promethean Particles (EMR identifier in the project: ERM00000397).

Tu je predstavený dátový súbor meraní XPS, HAXPES a SEM pre fyzikálno-chemickú charakterizáciu nanočastíc. Merania sú súčasťou projektu programu Horizont 2020 „NanoSolveIT“. Nanočastice CeO2/Co3O4 boli poskytnuté spoločnosťou Promethean Particles (EMR identifikátor v projekte: ERM00000397). Pred meraním boli vzorky pripravené z roztoku vo forme kvapky odliatej na Si doštičky. Vykonali sa prvé merania SEM a EDS, po ktorých nasledovali merania XPS a HAXPES na rovnakých vzorkách. Tu boli na prvom prieskume zaznamenané spektrá, po ktorých nasledovali spektrá s vysokým rozlíšením. Pre XPS / HAXPES bolo na jednej platni namontovaných niekoľko Si-waferov. Platňa bola ponechaná v intro komore prístroja niekoľko hodín pred začatím merania. Vybavenie: SEM snímky boli získané s Supra 40 (Zeiss) SEM vybavený Quantax 400 (Bruker) SDD EDS spektrometrom. Pre röntgenové spektroskopické experimenty sa použil kombinovaný spektrometer XPS / HAXPES (Quantes z ULVAC-PHI), kde sa XPS meria pri 1486,6 eV (monochromatický zdroj Al Kα) a HAXPES pri 5414,9 eV (monochromatický zdroj Cr Kα). Tu je možné vykonať merania v presne rovnakej polohe. Údaje: V prípade SEM sa údaje uvádzajú vo formáte .tif. Pre XPS / HAXPES sú nespracované údaje uvedené ako súbory .spe (formát PHI) a .npl (formát VAMAS). Podmienky merania sú uvedené v dátových súboroch. Pomenovanie údajov: SEM: vzorka_ošetrenie n) s n poradovým číslom. XPS / HAXPES: Pre .spe a pre príslušné súbory .npl Pn.m.o.sample_treatment s Pn: číslo platne, m: číslo spektra (poradie meraní); o: bodové číslo pozície na vzorke, vzorka_ošetrenie "p" pre nedotknutú vzorku. Autori ďakujú Sigrid Benemannovej, ktorá vykonala merania SEM.