Nous présentons ici un ensemble de données de mesures XPS, HAXPES et SEM pour la caractérisation physico-chimique des nanoparticules stérilisées. Les mesures font partie du projet Horizon 2020 «NanoSolveIT». Les nanoparticules Co1.5Fe1.5O4 ont été fournies par Promethean Particles et traitées différemment par les partenaires du projet de l'Université de Birmingham (EMR-Identifier dans le projet: ERM00000407, ERM00000449, ERM00000428). Les particules ont été traitées par différentes méthodes de stérilisation (autoclave ou micro-ondes) et le BSA a été ou n'a pas été ajouté comme stabilisateur. Cela conduit finalement à cinq échantillons différents: vierge, autoclave, micro-ondes, autoclave avec BSA, micro-ondes avec BSA. Avant les mesures, les échantillons ont été préparés à partir de la solution sous forme de gouttes coulées sur des plaquettes de Si. Les premières mesures SEM et EDS ont été effectuées, suivies des mesures XPS et HAXPES sur les mêmes échantillons. Ici, au premier relevé, les spectres ont été enregistrés suivis de spectres à haute résolution. Pour XPS / HAXPES plusieurs Si-wafers ont été montés ensemble sur une plaquette. Le plateau a été laissé dans la chambre d'intro de l'instrument pendant plusieurs heures avant le début de la mesure. Équipement : Les images SEM ont été acquises avec un SEM Supra 40 (Zeiss) équipé d'un spectromètre Quantax 400 (Bruker) SDD EDS. Pour les expériences de spectroscopie aux rayons X, un spectromètre combiné XPS / HAXPES (Quantes de ULVAC-PHI) a été utilisé, où XPS est mesuré à 1486,6 eV (source monochromatique Al Kα) et HAXPES à 5414,9 eV (source monochromatique Cr Kα). Ici, il est possible d'effectuer les mesures exactement à la même position. Données : Pour SEM, les données sont données au format .tif. Pour XPS / HAXPES, les données brutes sont données sous forme de fichiers .spe (format PHI) et .npl (format VAMAS). Les conditions de mesure sont indiquées dans les fichiers de données. Dénomination des données: SEM : sample_treatment (n), avec n nombre consécutif. XPS / HAXPES: Pour les fichiers .spe Pn.m.o.sample_treatment et pour les fichiers .npl correspondants: m.npl avec Pn: numéro de plaque, en m: numéro du spectre (ordre des mesures); o : point numéro, de la position sur l'échantillon, échantillon_traitement avec "m" pour micro-ondes et "a" pour autoclave. Les auteurs remercient Sigrid Benemann, qui a effectué les mesures SEM.

Aquí se presenta un conjunto de datos de mediciones XPS, HAXPES y SEM para la caracterización físico-química de nanopartículas esterilizadas. Las mediciones forman parte del proyecto H2020 «NanoSolveIT». Las nanopartículas Co1.5Fe1.5O4 fueron proporcionadas por Promethean Particles y tratadas de manera diferente por los socios del proyecto de la Universidad de Birmingham (EMR-Identifier en el proyecto: ERM00000407, ERM00000449, ERM00000428). Las partículas fueron tratadas por diferentes métodos de esterilización (autoclave o microondas) y se añadió o no BSA como estabilizador. Esto finalmente conduce a cinco muestras diferentes: prístino, autoclave, microondas, autoclave con BSA, microondas con BSA. Antes de las mediciones, las muestras se prepararon a partir de la solución como colada en obleas Si. Se realizaron las primeras mediciones SEM y EDS, seguidas de las mediciones XPS y HAXPES en las mismas muestras. Aquí en la primera encuesta se registraron espectros seguidos de espectros de alta resolución. Para XPS / HAXPES se montaron varias obleas Si juntas en una sola placa. La placa se dejó en la cámara de introducción del instrumento durante varias horas antes de que comenzara la medición. Equipo: Las imágenes SEM fueron adquiridas con un SEM Supra 40 (Zeiss) equipado con un espectrómetro Quantax 400 (Bruker) SDD EDS. Para experimentos de espectroscopia de rayos X, se utilizó un espectrómetro XPS / HAXPES combinado (Quantes de ULVAC-PHI), donde XPS se mide a 1486.6 eV (fuente monocromática de Al Kα) y HAXPES a 5414.9 eV (fuente monocromática de Cr Kα). Aquí es posible realizar las mediciones en la misma posición exacta. Datos: Para SEM, los datos se dan en formato .tif. Para XPS / HAXPES los datos brutos se dan como archivos .spe (formato PHI) y .npl (formato VAMAS). Las condiciones de medición se dan en los archivos de datos. Nombramiento de los datos: SEM: _tratamiento de la muestra (n), con n un número consecutivo. XPS / HAXPES: Para los archivos .spe Pn.m.o.sample_treatment y para los archivos .npl correspondientes: m.npl con Pn: número de placa, m: número de espectro (orden de las mediciones); o: número de punto, de la posición en la muestra, muestra_tratamiento con "m" para microondas y "a" para autoclave. Los autores agradecen a Sigrid Benemann, quien realizó las mediciones SEM.