Here a dataset of XPS, HAXPES and SEM measurements for the physico-chemical characterization of sterilized nanoparticles is presented. The measurements are part of the H2020 project NanoSolveIT. ZnO nanoparticles were provided by Promethean Particles and treated differently by project partners from the University of Birmingham (EMR-Identifiers in the project: ERM00000416, ERM00000458, ERM00000437).

Hier wordt een dataset van XPS-, HAXPES- en SEM-metingen voor de fysisch-chemische karakterisering van gesteriliseerde nanodeeltjes gepresenteerd. De metingen maken deel uit van het H2020-project “NanoSolveIT”. ZnO nanoparticles werden verstrekt door Promethean-Particles en verschillend behandeld door projectpartners van de Universiteit van Birmingham (EMR-Identifiers in het project: ERM00000416, ERM00000458, ERM00000437). De deeltjes werden behandeld met verschillende sterilisatiemethoden (autoclaaf of magnetron) en BSA werd al dan niet toegevoegd als stabilisator. Dit leidt uiteindelijk tot vijf verschillende monsters: Ongerept, autoclaaf, magnetron, autoclaaf met BSA, magnetron met BSA. Voorafgaand aan de metingen werden de monsters bereid uit de oplossing als druppel gegoten op Si wafers. Eerst werden SEM- en EDS-metingen uitgevoerd, gevolgd door XPS- en HAXPES-metingen op dezelfde monsters. Hier werden bij het eerste onderzoek spectra opgenomen gevolgd door hoge resolutie spectra. Voor XPS/HAXPES werden meerdere Si-wafers op één plaat gemonteerd. De plaat werd enkele uren in de introkamer van het instrument achtergelaten voordat de meting begon. Uitrusting: SEM-beelden werden verkregen met een Supra 40 (Zeiss) SEM uitgerust met een Quantax 400 (Bruker) SDD EDS-spectrometer. Voor röntgenspectroscopie-experimenten werd een gecombineerde XPS / HAXPES-spectrometer (Quantes from ULVAC-PHI) gebruikt, waarbij XPS wordt gemeten bij 1486.6 eV (monochromatische Al Kα-bron) en HAXPES bij 5414.9 eV (monochromatische Cr Kα-bron). Hier is het mogelijk om de metingen op exact dezelfde positie uit te voeren. Gegevens: Voor SEM worden de gegevens gegeven in .tif-formaat. Voor XPS / HAXPES worden de ruwe gegevens gegeven als .spe (PHI-indeling) en .npl (VAMAS-indeling) bestanden. De meetcondities staan in de databestanden. Naamgeving van gegevens: SEM: monster_behandeling (n), met n een volgnummer. XPS / HAXPES: Voor de .spe-bestanden Pn.m.o.sample_treatment en voor de overeenkomstige .npl-bestanden: m.npl met Pn: kenteken, m: spectrumnummer (volgorde van de metingen); o: puntnummer van de positie op het monster, monster_behandeling met "m" voor microgolfoven en "a" voor autoclaaf. De auteurs danken Sigrid Benemann, die de SEM-metingen uitvoerde.