Here a dataset of XPS, HAXPES and SEM measurements for the physico-chemical characterization of nanoparticles is presented. The measurements are part of the H2020 project NanoSolveIT. Sterile Fe3O4 nanoparticles were synthesized under aseptic conditions at Mintek, South Africa (EMR-Identifier in the project: ERM00000583).

Тук е представен набор от данни от XPS, HAXPES и SEM измервания за физико-химичното характеризиране на наночастиците. Измерванията са част от проекта „NanoSolveIT“ по „Хоризонт 2020“. Стерилни Fe3O4 наночастици бяха синтезирани при асептични условия в Mintek, Южна Африка (EMR-идентификатор в проекта: ERM00000583). Преди измерванията пробите се приготвят от разтвора под формата на капково отливане върху полупроводникови пластини Si. Извършени са първите SEM измервания, последвани от XPS и HAXPES измервания на едни и същи проби. Тук на първо проучване бяха записани спектри, последвани от спектри с висока разделителна способност. За XPS / HAXPES няколко Si-wafers са монтирани заедно на една плоча. Плаката е оставена в интро камерата на инструмента в продължение на няколко часа преди началото на измерването. Оборудване: SEM изображенията са придобити със Supra 40 (Zeiss) SEM. За експерименти с рентгенова спектроскопия е използван комбиниран XPS / HAXPES спектрометър (Quantes from ULVAC-PHI), където XPS се измерва при 1486.6 eV (монохроматичен източник Al Kα) и HAXPES при 5414.9 eV (монохроматичен източник Cr Kα). Тук е възможно измерванията да се извършват на точно същата позиция. Данни: За SEM данните са дадени във формат .tif. За XPS / HAXPES необработените данни са дадени като .spe (PHI формат) и .npl (VAMAS формат) файлове. Условията на измерване са дадени във файловете с данни. Наименуване на данните: SEM: sample_treatment (n), с n последователно число. XPS/HAXPES: За .spe и за съответните .npl файлове Pn.m.o.sample_treatment, с Pn: номер на платното, m: номер на спектъра (ред на измерванията); o: точка номер, на позицията на пробата, sample_лечение с "р" за девствена. Авторите благодарят на Торид Ланге, който извърши измерванията на SEM.